专利内容由知识产权出版社提供
专利名称：基于FBG传感器阵列光谱的裂纹损伤监测与应变场
测量方法
专利类型：发明专利发明人：文晓艳,郑漫琳申请号：CN201810333302.9申请日：20180413公开号：CN108562490A公开日：20180921
摘要：本发明公开了一种基于FBG传感器阵列光谱的裂纹损伤监测与应变场测量方法，包括以下步骤：1选择待测试件；2对待测试件进行结构力学分析；3在试件上粘贴传感器；4将粘贴光纤布拉格光栅传感器的试件进行加载实验，确定实验系统；5对得到的一系列光谱进行分析，探究光谱特征参量与裂纹初始位置、裂纹扩展状况的对应关系；6将FBG传感器得到的应力应变与距离曲线与有限元模拟结果进行对比。通过上述步骤，实现了对裂纹损伤监测及裂纹尖端应力场测量，达到了距离裂纹损伤的远近与光谱的对应关系，并可通过实验验证这种方法测量裂纹尖端应变场的可行性。
申请人：武汉理工大学
地址：430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
国籍：CN
代理机构：湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人：许美红
更多信息请下载全文后查看
