专利名称：卡片式检测仪表专利类型：外观专利
申请号：CN201430480163.5申请日：20141127公开号：CN303179324S公开日：20150422
专利附图：
申请人：上海来松电子有限公司
地址：201112 上海市闵行区联航路1188号8幢1层101单元
国籍：CN
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